Simone螺旋测微器的使用方法如下：
外径螺旋测微器的使用方法：将被测物擦干净，千分尺使用时轻拿轻放。松开千分尺锁紧装置，校准零位，转动旋钮，使测砧与测微螺杆之间的距离略大于被测物体。
一只手拿千分尺的尺架，将待测物置于测砧与测微螺杆的端面之间，另一只手转动旋钮，当螺杆要接近物体时，改旋测力装置直至听到喀喀声后再轻轻转动0.5~1圈。旋紧锁紧装置(防止移动千分尺时螺杆转动)，即可读数。
内径螺旋测微器的使用方法：内径千分尺在测量及其使用时，必需用尺寸Z大的接杆与其测微头连接，依次顺接到测量触头，以减少连接后的轴线弯曲。测量时应看测微头固定和松开时的变化量。
日常生产中，用内径尺测量孔时，将其测量触头测量面支撑在被测表面上，调整微分筒，使微分筒一侧的测量面在孔的径向截面内摆动，找出Z小尺寸。然后拧紧固定螺钉取出并读数，也有不拧紧螺钉直接读数的。这样就存在着姿态测量问题。
内径千分尺测量时支承位置要正确。接长后的大尺寸内径尺重力变形，涉及到直线度、平行度、垂直度等形位误差。其刚度的大小，仔段具体可反映在“自然挠度”上。理论和实验结果表明由工件截面形状所决定的刚度对支承后的重力变形影响很大。
如不同截面形状的内径尺其长度 L 虽相同，当支承在(2/9)L 处时，都能使内径尺的实测值误差符合要求。但支承点稍有不同，其直线度变化值就较大。
深度螺旋测微器的使用方法：使用前先将深度千分尺擦干净，然后检查其各活动部分是否灵活可靠：在全行程内微分筒的转动要灵活，微分螺杆的移动要平稳，锁紧装置的作用要可靠。根据被测的深度或高度选择并换上测杆。
0—25mm的深度千分尺可以直接校对零位：采用00级平台，将平台、深度千分尺的基准面和测量面擦干净，旋转微分筒使其端面退至固定套筒的零线之外，然后将千分尺的基准面贴在平台的工作面上，左手压住底座，右手慢慢旋转棘轮，使测量面与平台的工作面接触后检查零位：微分筒上的零刻线应对准固定套管上的纵刻线，微分筒锥面的端面应与套管零刻线相切。
测量范围大于25mm的深度千分尺，要用校对量具(可以用量块代替)校对零位：把校对量具和平台的工作面擦净，将校对量具放在平台上，再把深度千分尺的基准面贴在校对量具上校对零位。
使用深度千分尺测量盲孔、深槽时，往往看不见孔、槽底的情况，所以操作深度千分尺时要特别小心、切忌用力莽撞。当被测孔的口径或槽宽大于深度千分尺的底座时，可以用一辅助定位基准板进行测量。
杠杆螺旋测微器的使用方法：用杠杆卡规或杠杆千分尺作相对测量前，应按被测工件的尺寸，用量块调整好零位。测量时，按动退让按钮，让测量杆面轻轻接触工件，不可硬卡，以免测量面磨损而影响精度。
测量工件直径时，应顺着工件加工方向旋转工件，以指针的转折点读数为正确测量值。
数显螺旋测微器的使用方法：将表固定在表座或表架上，稳定可裂罩靠。装夹指示表时，夹紧力不能过大，以免套筒变形卡住测杆。调整表的测杆轴线垂直于被测平面，对圆柱形工件，测杆的轴线要垂直于工件的轴线，否则会产生很大的误差并损坏指示表。
测量前调零位。测量用平板做零位基准，比较测量用对比物(量块)做零位基准。调零位时，先使测头与基准面接触，压测头使大指针旋转肆戚闹大于一圈，转动刻度盘使0线与大指针对齐，然后把测杆上端提起1-2mm再放手使其落下，反复2-3次后检查指针是否仍与0线对齐，如不齐则重调。
测量时，用手轻轻抬起测杆，将工件放入测头下测量，不可把工件强行推入测头下。显著凹凸的工件不用指示表测量。不要使测量杆突然撞落到工件上，也不可强烈震动、敲打指示表。
测量时注意表的测量范围，不要使测头位移超出量程，以免过度伸长弹簧，损坏指示表。使测头测杆做过多无效的运动，否则会加快零件磨损，使表失去应有精度。当测杆移动发生阻滞时，不可QL推压测头，须送计量室处理。
